[DSP]/DSP283352009. 5. 27. 01:53

[DSP28335 EVM] TMS320F28335 XINTF 외부 메모리 테스트

[DSP28335 EVM] TMS320F28335 XINTF 외부 메모리 테스트

[DSP28335 EVM] 보드에는 외부 메모리 인터페이스 CS핀이 두포트 할당되어 있다.  SRAM 메모리는 CS7(GP37)에 할당 되어 있고 CS0(GP36)은 외부 제어용으로 할당되어 있다.

CS핀에 따른 메모리 블록

Each zone can be programmed with different wait states, setup and hold timings. A dedicated zone chip select
(XZCS) signal toggles when an access to a particular zone is performed. These features enable glueless connection
to many external memories and peripherals.
B Zones 1 − 5 are reserved for future expansion.
C When the XINTF clock is enabled in PCLKCR3, all zones are enabled.

외부 메모리 할당
ZONE7DATA 는 CMD파일에 할당한다.
//CS7 메모리 블록 할당
#pragma DATA_SECTION(gExinf7Buff,"ZONE7DATA");

#define BUF_SIZE   1024 
volatile unsigned int gExinf7Buff[BUF_SIZE];

TMS320F28335 SRAM제어 테스트 예제 소스코드
SRAM 메모리에 간단히 데이터 쓰고 읽어 시리얼 포트로 출력 하는 예제를 작성해 보았다.
void main(void)
 int cnt = 0;
 int flag = 0;
 int i = 0;
 //DSP System Initialize



 DebugPrint("DSP28335 EX-SRAM Test\r\n");

 DebugPrint("SRAM Write Start.\r\n");
  gExinf7Buff[i] = i;
 DebugPrint("SRAM Read.\r\n");
  DebugPrint("val=%d\r\n", gExinf7Buff[i]);

Posted by nexp

댓글을 달아 주세요